惠普4155A半导体参数测试仪4155B

详情描述：

特性
? 4156C提供4个内置的高分辨率的源/监控单元（HPSMUs），两个电压源单元（VSUs）和两个电压监控单元（VMUs）
? 1 fA 和0.2?UV的测试精度可满足开发新工技术和评价材料
? 全Kelvin，每个HRSMU有激励源、感应和接地端
? 完成准静态的电容对电压测试
? 自动提取处理参数而不需要人工操作屏幕光标
? 用极低泄漏的SMUs测量特有泄露特性
? 用集成的脉冲发生器和选择开关自动完成器件表征
? 用内置的应力模式完成晶片的可靠性测试
? 用图形用户界面完成“点击”测试
? 基于Windows环境的图形数据分析能力
? 旋钮扫描功能可以快速检验探针是否接触正常


? 待机模式不需要外部电源

? 触发模式可以同步AC/DC测试。

? IBASIC 用户功能可以绘图和分析数据。

Agilent4156C精密半导体参数测试仪
Agilent4156C精密半导体参数测试仪是Agilent下一代的精密半导体参数测试仪，4156C为gao级器件表征提供了高精
ding级参数分析的实验室平台。
较高的低电流、低电压分辨率和内置准静态CV测量能力，4156C还为以后和其他的测量仪器的扩展使用提供了坚实基础。
41501B扩展测量能力到1A/200V，并给Agilent4156C增加一个低的噪声接地单元和双脉冲发生器。